Abstract:
O processo de medição de espessuras e de densidades superficiais de sedimentos depositados em modelos
físicos tem sido motivo de investigação, conhecendo-se alguns métodos para o efeito, mas todos eles exibindo
limitações sérias, em especial quando se pretendem medir depósitos em camada fina, isto é, com poucos
milímetros de espessura.
O presente estudo refere-se a um método para realizar este tipo de medição, baseado na variação de resistência
elétrica entre elétrodos que fiquem cobertos com a camada de sedimentos. Pretende-se aplicar um método de
medição que não perturbe o processo de sedimentação, com sensibilidade para medição de camadas finas (até
1cm) de sedimento, que permita a medição ao longo do tempo, robusto aos efeitos eletroquímicos da água e
robusto às perturbações do meio (variação de temperatura, salinidade e nível da água).
Inicialmente é feito um resumo sucinto do estado de arte dos métodos de medição de sedimentos, com a
descrição das vantagens e limitações de cada um e salientando a sua aplicabilidade à medição de sedimentos em
camadas finas. Segue-se uma descrição do princípio de medição adoptado, identificam-se diversos fatores de
influência que, na abordagem convencional, perturbam ou dificultam a medição pretendida, propondo-se soluções
para os compensar ou os retirar da cadeia de transdução. É feita uma descrição do circuito eletrónico
desenvolvido que permite implementar o método de medição proposto.
Finalmente são apresentados os resultados de um estudo experimental feito em protótipo que mostram a
viabilidade do método com as inovações introduzidas para superar as limitações do princípio de medição.
