Análise elementar em profundidade por espetrometria de emissão ótica de descarga luminescente em revestimentos de aços galvanizados

Abstract

Tradicionalmente utilizada na análise elementar de metais e suas ligas, a espetrometria de emissão ótica de descarga luminescente (GD-OES) tem vindo a despertar um interesse crescente na determinação da composição química elementar de materiais não condutores e, em especial, na análise elementar em profundidade de revestimentos finos, permitindo fornecer perfis qualitativos e quantitativos contínuos desde a superfície do revestimento até ao substrato (material base). Não existindo materiais de referência, para a validação do método desenvolveu-se uma metodologia para a análise elementar em profundidade em revestimentos de aços galvanizados, de acordo com as exigências da norma ISO 16962:2005. Selecionaram-se como elementos de análise o Fe, Zn e Al e determinou-se a repetibilidade mínima, os limites de detecção e de quantificação, precisão intermédia, exactidão e a incerteza associada ao método.